TURINYS
PIRMOJI DALIS
1.1. ĮVADAS
1.2. AKUSTINIAI METODAI
1.2.1. Teorija
1.2.2. Bangų generavimas. Fizikiniai principai
1.2.3. Pjezoelektrinių keitiklių konstrukcija
1.2.4. Bendrieji keitiklių parametrai
1.2.5. Akustinių metodų taikymo variantai
1.2.6. Specialūs akustinių metodų klausimai
1.2.7. Akustinė spinduliuotė (emisija)
1.2.8. Triukšmo ir vibracijų metodas
1.3. ELEKTRINIAI METODAI
1.3.1. Potencialo metodas
1.3.2. Metodas, pagrįstas talpos matavimu
1.4. KAPILIARINIS (SKVERBIKLIŲ) METODAS
1.5. MAGNETINIS METODAS
1.5.1. Teorija
1.5.2. Defektų paieška tiriant sklaidos lauką
1.5.3. Metodai, pagrįsti integrinių magnetinių dydžių matavimu
1.6. NUOTĖKIO PAIEŠKOS (SANDARUMO TIKRINIMO) METODAI
1.7. OPTINIAI METODAI
1.7.1. Teorija
1.7.2. Optinių metodų taikymas
1.7.3. Nematomojo diapazono bangų naudojimas
1.7.4. Vaizdų tvarkymas
1.8. RADIACINIAI METODAI
1.8.1. Spinduliuotės šaltiniai
1.8.2. Spinduliuotės sąveika su medžiaga
1.8.3. Spinduliuotės detektoriai
1.8.4. Radiacinių metodų taikymas
1.8.5. Rentgeno kompiuterinė tomografija (CT)
1.9. SŪKURINIŲ SROVIŲ (ELEKTROMAGNETINIAI) METODAI
1.9.1. Teorija
1.9.2. Metodų taikymas
1.10. ŠILUMINIAI METODAI
1.10.1. Teorija
1.10.2. Metodų taikymas
1.10.3. Šiluminių bangų metodas
ANTROJI DALIS
2.1. MIKROBANGINĖS MEDŽIAGOTYROS ELEKTRODINAMIKOS PAGRINDAI
2.1.1. Maksvelo lygčių sistemos diferencialinė forma
2.1.2. Dielektrikus veikiančių elektrinių jėgų samprata
2.2. DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMO KONDENSATORIUS IR ĮTAKĄ DARANTYS VEIKSNIAI
2.2.1. Matavimo kondensatoriaus parametrų sąsaja su tiriamuoju bandiniu
2.2.2. Matavimo kondensatoriui įtaką darančių veiksnių įtakos analizė
2.3. REZONANSINIAI METODAI
2.3.1. Įvadas
2.3.2. Rezonansinių matavimų metrinių bangų ruože metodai
2.3.2.1. Keitimo metodas
2.3.2.2. Kontūro išderinimo metodas
2.3.2.3. Maišos metodas
2.3.2.4. Radiointerferenciniai metodai
2.4. REZONANSINIS METODAS MEDŽIAGŲ ELEKTRINĖMS CHARAKTERISTIKOMS MATUOTI METRINIŲ IR DECIMETRINIŲ BANGŲ RUOŽE
2.4.1. Įvadas
2.4.2. Antrasis Drudė metodas
2.4.3. Rožanskio plokštelės metodas
2.4.4. Bendraašiai rezonatoriai su mažu tarpu
2.5. REZONANSINIAI METODAI MEDŽIAGŲ ELEKTRINĖMS CHARAKTERISTIKOMS MATUOTI CENTIMETRINIŲ BANGŲ RUOŽE
2.5.1. Įvadas
2.5.2. Mažų trikdžių metodo esmė
2.5.3. Mažų trikdžių metodo fizikiniai pagrindai
2.5.4. Cilindriniai rezonatoriai
2.5.5. Cilindrinio rezonatoriaus, sužadinto TM banga E010 modos virpesiais, taikymas dielektrinei skvarbai ir nuostolių kampo tangentui matuoti
2.5.6. Cilindrinio rezonatoriaus, sužadinto TE bangos H01 moda, taikymas dielektrinei skvarbai ir nuostolių kampo tangentui matuoti
2.5.7. Storų bandinių naudojimo sunkumai
2.5.8. Stačiakampių rezonatorių naudojimas
2.5.9. Bendraašiai rezonatoriai
2.5.10. Dielektriku visiškai užpildyti rezonatoriai
2.5.11. Medžiagų dielektrinės skvarbos ir nuostolių kampo tangento matavimo rezonansiniais metodais įranga
2.6. KOMPLEKSINĖS DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMAS, NAUDOJANT ELEKTROMAGNETINES BANGAS KREIPIAMOSIOSE SISTEMOSE
2.6.1. Įvadas
2.6.2. Pirmasis Drudė ir kiti matavimo metodai, naudojant dvilaidę liniją
2.7. KOMPLEKSINĖS DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMAS, NAUDOJANT ELEKTROMAGNETINES BANGAS KREIPIAMOSIOSE SISTEMOSE, BENDRAAŠĖS LINIJOS METODU
2.7.1. Įvadas
2.7.2. Stovinčiosios bangos koeficiento matavimas
2.7.3. Bendraašių linijų naudojimas dielektrinei skvarbai matuoti
2.8. KOMPLEKSINĖS DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMAS, NAUDOJANT ELEKTROMAGNETINES BANGAS STAČIAKAMPIAME BANGOLAIDYJE
2.8.1. Bangolaidiniai dielektrinės skvarbos ir dielektrinių nuostolių matavimo metodai
2.8.2. Bangolaidžio skerspjūvio visiško užpildymo metodas
2.8.3. Trumpojo jungimo ir tuščiosios veikos metodas
2.8.4. Bandinio storio keitimo metodas
2.8.5. Begalinio sluoksnio metodas
2.8.6. Sugerties metodas
2.8.7. Bangolaidžio dalinio užpildymo metodas
2.9. DUJŲ DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMO METODAI
2.9.1. Įvadas
2.9.2. Rezonansiniai metodai dujų dielektrinei skvarbai matuoti centimetrinių bangų ruože
2.9.3. Bangolaidiniai dujų dielektrinės skvarbos matavimo metodai
2.10. OPTINIS KOMPLEKSINĖS DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMAS ELEKTROMAGNETINIŲ BANGŲ ATSPINDŽIO IR PERĖJIMO BŪDU
2.10.1. Įvadas
2.10.2. Optinių metodų fizikiniai pagrindai
2.10.3. Elektromagnetinių bangų atspindžio ir lūžimo dėsnių taikymas medžiagų dielektrinei skvarbai matuoti
2.10.4. Dielektrinės skvarbos realiosios dalies ε' ir dielektrinių nuostolių matavimas, remiantis Briusterio dėsniu
2.10.5. Medžiagų lūžimo rodiklio ir dielektrinės skvarbos matavimas atsižvelgiant į elektromagnetinių bangų fazių pokytį
2.10.6. Medžiagų kompleksinės dielektrinės skvarbos matavimas MB interferenciniais metodais
2.10.6.1. Maikelsono interferometro taikymas medžiagų dielektrinei skvarbai, lūžio rodikliui ir sugerties koeficientui nustatyti
2.10.6.2. Unifikuoti interferometrai ir jų taikymas medžiagų dielektrinei skvarbai matuoti
2.10.6.3. Fabri ir Pero interferometras
2.11. KALORIMETRINIS IR TERMOMETRINIS DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMO METODAI
2.11.1. Lyginamųjų matavimų metodai
2.11.2. Skysčių plėtimusi pagrįsti metodai
2.11.3. Kalorimetriniai kietų kūnų dielektrinės skvarbos matavimo metodai
2.12. PONDEROMOTORINIAI MEDŽIAGŲ DIELEKTRINĖS SKVARBOS MATAVIMO METODAI
2.12.1. Įvadas
2.12.2. Metodai, pagrįsti įtraukiančiojo elektrinio lauko poveikiu
2.12.3. Metodai, pagrįsti elektrinio lauko traukos jėga tarp kondensatoriaus plokštelių
2.12.4. Elipsoido metodas
2.12.5. Kietųjų medžiagų dielektrinės skvarbos matavimas elipsoido metodu
2.13. DIDELĘ DIELEKTRINĘ SKVARBĄ TURINČIŲ MEDŽIAGŲ, MATAVIMO METODŲ YPATUMAI
PRIEDAI
LITERATŪRA